71/2004 Sb. — Vyhláška, kterou se stanoví požadavky na měřicí sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku

§ 1

Tato vyhláška stanoví požadavky na měřicí sestavy s Epsteinovým přístrojem pro měření magnetických vlastností plechů pro elektrotechniku (dále jen „měřicí sestavy“), postup při schvalování jejich typu a postup při jejich ověřování.

§ 2

Terminologie, požadavky na měřicí sestavy, jakož i postup při schvalování typu měřicích sestav a postup při jejich ověřování jsou uvedeny v příloze.

§ 3

Tato vyhláška nabývá účinnosti dnem 1. března 2004.

Příloha k vyhlášce č. 71/2004 Sb.

1 TERMINOLOGIE

1.1 Měřicí sestava se používá pro měření amplitudové charakteristiky a měrných ztrát plechů pro elektrotechniku. Skládá se z přístrojů a zařízení zapojených podle obrázků 1 až 3 a specifikovaných v bodu 2.

1.2 Etalonový vzorek pro Epsteinův přístroj příslušející k měřicí sestavě je vzorek splňující požadavky této vyhlášky a používaný výhradně k metrologické návaznosti měřicí sestavy.

1.3 Etalonová měřicí sestava je měřicí sestava podle bodu 1.1, která je v držení metrologické instituce, je dlouhodobě sledovaná a prostřednictvím etalonových vzorků mezinárodně porovnaná.

1.4 Měrné ztráty měřené měřicí sestavou jsou ztráty přemagnetováním v měřeném vzorku vztažené k aktivní hmotnosti vzorku.

1.5 Amplitudová charakteristika je závislost amplitudy magnetické polarizace ve vzorku na amplitudě intenzity magnetického pole ve vzorku.

2 POŽADAVKY NA MĚŘICÍ SESTAVY

2.1 METROLOGICKÉ POŽADAVKY
Měřicí sestava se skládá z částí, které musí splňovat tyto požadavky:
Součástí měřicí sestavy jsou navazovací etalonové vzorky, které musí magnetickými vlastnostmi a hmotností odpovídat vzorkům, které jsou měřicí sestavou běžně měřeny. Tyto vzorky musí splňovat příslušné požadavky bodu 2.2.

e) měřidlo výkonu měřící s chybou 0,5 % nebo menší při aktuálním účiníku a crest faktoru, resistance napěťového obvodu měřidla výkonu musí být nejméně 5000 krát větší než jeho reaktance,

c) voltmetr střední hodnoty měřící s chybnou 0,2 % nebo menší,

d) voltmetr efektivní hodnoty měřící s chybou 0,2 % nebo menší,

f) voltmetr amplitudy měřící s chybou 0,5 % nebo menší ve spojení s odporem s vyhovujícím povoleným proudem a hodnotou známou s chybou 0,2 % nebo menší (místo voltmetru amplitudy s odporem lze použít vzájemnou indukčnost s vyhovujícím povoleným proudem v primárním vinutí a s hodnotou známou s chybou 0,2 % nebo menší spolu s dvoupólovým přepínačem a voltmetrem střední hodnoty),

g) zdroj magnetovacího proudu s nízkou výstupní impedancí a vysokou stabilitou napětí a frekvence, kolísání napětí a frekvence nesmí být větší než 0,2 % použité hodnoty. Pro měření měrných ztrát musí být zajištěn činitel tvaru sekundárního napětí 1,111 ± 1%.

a) Epsteinův přístroj specifikovaný v bodu 2.2,

b) měřidlo frekvence měřící s chybou 0,1 % nebo menší,

2.2 TECHNICKÉ POŽADAVKY

2.2.2 Nápisy a značky

2.2.2.1 Měřicí sestava
Speciální nápisy a značky na měřicí sestavě jsou nahrazeny technickou dokumentací, která musí být vypracována a která musí obsahovat:

a) seznam všech měřidel a zařízení, která přísluší k měřicí sestavě, s uvedením výrobců a výrobních čísel a popřípadě chyb měřidel a měřicí sestavy podle údajů výrobce,

b) podrobné a přehledné schéma zapojení pro příslušný druh měření, technické popisy a návody k obsluze součástí měřicí sestavy,

i) kniha záznamů všech měření s etalonovými vzorky příslušejícími k měřicí sestavě.

h) ověřovací list měřicí sestavy při následném ověření,

g) kalibrační nebo ověřovací listy měřidel, která jsou součástí měřicí sestavy, pokud kalibrace nebo ověření byly provedeny,

f) seznam etalonových vzorků,

e) impedance důležitých součástí a měřidel,

d) dolní a horní meze rozsahů, při kterých bude měřicí sestava používána,

c) stručné popisy způsobů měření a napájení (například napájení zesilovačem vynucujícím sinusový časový průběh magnetické indukce, měření výkonu převodníkem na základě vzorkovacího principu, využití řídícího počítače),

2.2.2.2 Epsteinův přístroj
Cívky Epsteinova přístroje musí být označeny. Doporučuje se označení ve smyslu hodinových ručiček A, B, C, D. Na Epsteinově přístroji i v dokumentaci měřicí sestavy musí být uvedeny počty závitů primárního i sekundárního vinutí.

Pokud jsou všechny údaje, které mají být uvedeny v evidenčním listu, uvedeny v kalibračním listu vzorku, etalonový vzorek nemusí mít evidenční list.
Ke každému etalonovému vzorku musí být vystaven evidenční list, ve kterém musí být uvedeno:
Všechny pásky etalonového vzorku musí být označeny tak, aby jejich složení v Epsteinově přístroji bylo možné jediným způsobem.
Etalonový vzorek musí být označen evidenčním číslem nebo písmeny, a to stejným, trvalým a nesmazatelným způsobem na každém pásku etalonového vzorku.
2.2.2.3 Etalonové vzorky

b) druh a typ materiálu,

c) průřez vzorku,

d) hustota vzorku,

e) hmotnost vzorku,

f) počet pásků vzorku,

g) tloušťka, šířka a délka pásků vzorku.

a) evidenční označení etalonového vzorku,

2.2.1 Konstrukce

L_{1} / N_{1}^{2} \leq 2,5 . 10^{- 9} H, L_{2} / N_{2}^{2} \leq 2,5 . 10^{- 9} H, (2)

2.2.1.1 Epsteinův přístroj
Epsteinův přístroj se skládá ze čtyř cívek, do kterých se vkládají pásky zkoušeného vzorku elektroplechu. Kostry cívek jsou vyrobeny z tvrdého isolačního materiálu, mají obdélníkový průřez s vnitřní šířkou 32 mm. Doporučovaná vnitřní výška je 10 mm. Cívky jsou upevněny na desce z isolačního a nemagnetického materiálu tak, že tvoří čtverec. Délka strany čtverce vnitřních hran pásků vloženého vzorku je (220 +1 -0) mm.
kde R₁ a R₂ jsou resistence primárního resp. sekundárního vinutí,
Každá cívka má dvě vinutí – vnější primární vinutí a vnitřní sekundární vinutí. Mezi nimi může být elektrostatické stínění. Vinutí musí být navinuto rovnoměrně na délce 190 mm, každá cívka má jednu čtvrtinu celkového počtu závitů. Primární vinutí všech cívek je sériově spojeno, stejně je sériově spojeno sekundární vinutí všech cívek. Počet závitů není předepsán, ale obvykle je 700 pro užívání při frekvenci 50 Hz.
K maximálnímu snížení vlivu impedancí vinutí musí tyto impedance splňovat tyto podmínky:
Epsteinův přístroj musí být kompenzován s ohledem na magnetický tok vzduchem. Za tím účelem je uprostřed prostoru ohraničeného cívkami Epsteinova přístroje umístěna cívka vzájemné indukčnosti, její osa je kolmá k rovině tvořené osami cívek Epsteinova přístroje. Primární vinutí této kompenzační cívky je zapojeno v sérii s primárním vinutím Epsteinova přístroje a sekundární vinutí je zapojeno v sérii se sekundárním vinutím Epsteinova přístroje tak, aby indukovaná napětí v těchto sekundárních vinutích byla opačné polarity. Nastavení hodnoty kompenzační vzájemné indukčnosti je takové, že při průchodu střídavého proudu primárními vinutími při prázdném Epsteinově přístroji (vzorek není vložen) napětí měřené mezi volnými nespojenými konci sekundárních vinutí není větší než 0,1 % napětí na sekundárním vinutí nekompenzovaného Epsteinova přístroje.
N₁ a N₂ jsou celkové počty závitů primárního a sekundárního vinutí.
L₁ a L₂ jsou induktance primárního resp. sekundárního vinutí,

R_{1} / N_{1}^{2} \leq 1,25 . 10^{- 6} Ω, R_{2} / N_{2}^{2} \leq 5 . 10^{- 6} Ω, (1)

2.2.1.2 Etalonové vzorky
Počet pásků vzorku je dělitelný čtyřmi. Aktivní hmotnost etalonového vzorku musí být nejméně 240 g pro vzorky dlouhé 280 mm.

m_{a} = m . l_{m} / 4 l, (3)

m je celková hmotnost vzorku v kg,
l_m je efektivní délka magnetického obvodu 0,94 m,
Délka pásků musí být stejná s tolerancí ± 0,5 mm. Když jsou pásky stříhány rovnoběžně nebo kolmo se směrem válcování, okraje mateřského pásu nebo tabule jsou brány jako referenční směr. Pásky vzorku zhotoveného z orientovaného materiálu musí mít směr delší osy pásku odlišný od směru válcování nejvýše o ± 1⁰. U pásků vzorku zhotoveného z neorientovaného materiálu musí mít polovina pásků směr delší osy shodný se směrem válcování s tolerancí nejvýše ± 5⁰ a druhá polovina pásků má směr delší osy kolmý na směr válcování s tolerancí nejvýše ± 5⁰. Na každém pásku musí být patrný směr válcování. Pásky s delší osou ve směru válcování se vkládají do protilehlých rovnoběžných cívek Epsteinova přístroje a pásky s delší osou kolmou na směr válcování se vkládají do zbývajících cívek.
m_a je aktivní hmotnost vzorku v kg.
Součástí měřicí sestavy jsou etalonové vzorky pro Epsteinův přístroj (dále jen „etalonové vzorky“). Tyto vzorky musí magnetickými vlastnostmi a hmotností pokrývat rozsah magnetických vlastností a hmotností vzorků, které jsou měřicí sestavou běžně měřeny.
šířka 30 mm ± 0,2 mm, délka je větší nebo rovna 280 mm a menší nebo rovna 320 mm.
l je délka pásku vzorku v m,
kde
Etalonové vzorky jsou vyrobeny z elektrotechnické oceli. Pásky etalonového vzorku musí být ploché, jsou stříhány bez viditelných otřepů a nerovných okrajů a pokud je to specifikováno, jsou tepelně zpracovány. Pásky musí být čisté, bez okují a jiných nečistot. Pásky vzorku mají následující rozměry:
Efektivní délka magnetického obvodu vzorku l_m je stanovena dohodou 0,94 m. Aktivní hmotnost vzorku m_a je dána vztahem

2.2.1.3 Měřicí sestava

kde
Amplituda intenzity magnetického pole ve vzorku H_a se určí měřením amplitudy proudu v obvodu primárního vinutí I_1a, to je měřením amplitudy napětí U_1a na odporu R v zapojení podle obrázku 1. Platí I_1a = U_1a / R. Amplituda intenzity magnetického pole se vypočte z rovnice:
kde
H_a je amplituda intenzity magnetického pole ve vzorku,
Amplituda magnetické polarizace J_a se určí měřením střední hodnoty usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí podle vztahu (4).
I_1aje amplituda magnetovacího proudu v obvodu primárního vinutí
l_m smluvený efektivní délka magnetického obvodu vzorku
Měřicí sestava pro měření amplitudové charakteristiky je zapojena podle schématu na obrázku 2 nebo na obrázku 3. Před měřením amplitudové charakteristiky se musí vzorek odmagnetovat nastavením takového střídavého magnetovacího proudu, který odpovídá nasycené magnetické polarizaci ve vzorku, a jeho pomalým postupným snižováním do nulové hodnoty.
2.2.1.3.2 Měřicí sestava pro měření amplitudové charakteristiky
N₁je celkový počet závitů primárního vinutí Epsteinova přístroje
sbcr2004c023z0071p001o003.tif

H_{a} = I_{1 a} N_{1} / l_{m}, (8)

Obrázek 2
Alternativně může být amplituda intenzity magnetického pole určena měřením střední hodnoty usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí vzájemné indukčnosti M_D, jejíž primární vinutí je zapojeno v sérii s primárním vinutím Epsteinova přístroje v zapojení podle schématu na obrázku 3. Při použití této metody je nezbytné kontrolovat tvar časového průběhu napětí U_Dm osciloskopem, časový průběh musí mít pouze dva průchody nulovou hodnotou během jedné periody. Jako voltmetr střední hodnoty nutný k měření U_Dm lze použít voltmetr měřící sekundární napětí Epsteinova přístroje a přepínač, jak je znázorněno na obrázku 3.
R_m je resistance sekundárního vinutí vzájemné indukčnosti M_D v Ω,
U_Dm je střední hodnota usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí M_D.
R_v je vnitřní resistance voltmetru střední hodnoty v Ω,
Amplituda intenzity magnetického pole se vypočte z rovnice:

H_{a} = U_{D m} [N_{1} / (4 ƒ M_{D} l_{m})] . (R_{v} + R_{m}) / R_{v}, (9)

Obrázek 3
M_D je vzájemná indukčnost v obvodu podle obr. 3 v H

l je délka pásků vzorku v m,
P_c jsou vypočtené celkové ztráty vzorku ve W.
m_a je aktivní hmotnost vzorku v kg,
m je celková hmotnost vzorku v kg,
l_m je smluvená efektivní délka magnetického obvodu v m (l_m = 0,94 m),
l je délka pásku vzorku v m,
P_s jsou celkové měrné ztráty vzorku ve W/kg,
kde

P_{s} = P_{c} / m_{a} = (P_{c} / m_{a}) . (4 l / l_{m}), (7)

Měrné ztráty P_s se vypočtou podle vztahu
|U_2m| je střední hodnota usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí ve V.
R_i je celková ekvivalentní resistence přístrojů v sekundárním obvodu v Ω
N₂ je celkový počet závitů sekundárního vinutí
N₁ je celkový počet závitů primárního vinutí,
P_m je výkon změřený wattmetrem ve W,
P_c jsou celkové vypočtené ztráty vzorku ve W,
kde

P_{c} = P_{m} N_{1} / N_{2} - {(1,111 | U_{2 m} |)}^{2} / R_{i}, (6)

Z údaje wattmetru se vypočtou celkové ztráty P_c podle
Ampérmetr v primárním obvodu se zkratuje a napětí se potom popřípadě dorovná na požadovanou hodnotu. Podílem střední hodnoty a efektivní hodnoty indukovaného napětí se stanoví činitel tvaru indukovaného napětí, který musí být 1,111 ± 1%.
Obrázek 1
sbcr2004c023z0071p001o001.tif

ρ_m je stanovená hustota materiálu vzorku v kg/m³.
m je celková hmotnost vzorku v kg,
A je průřez vzorku ve čtverečních m,
kde

A = m / (4 l ρ_{m}), (5)

Průřez vzorku se vypočte z rovnice
R_t je součet resistencí sekundárních vinutí Epsteinova přístroje a kompenzační vzájemné indukčnosti,
R_i je celková resistence přístrojů v sekundárním obvodu v Ω,
J_a je amplituda magnetické polarizace v T,
A je průřez vzorku v m²,
N₂ je celkový počet závitů sekundárního vinutí,
ƒ je frekvence v Hz,
|U_2m| je střední hodnota usměrněného napětí indukovaného v sekundárním vinutí ve V,
kde

|U_{2 m}| = 4 ƒ N_{2} A J_{a} R_{i} / (R_{i} + R_{t}), (4)

Měřicí sestava pro měření měrných ztát je zapojena podle schématu na obrázku 1. Magnetovací proud je pomalu zvyšován až se dosáhne požadované střední hodnoty usměrněného napětí |U_2m| na sekundárním vinutí Epsteinova přístroje. Přičemž se ampérmetrem sleduje hodnota magnetovacího proudu, aby proudový obvod wattmetru nebyl přetížen. Střední hodnota napětí je vypočtena z požadované amplitudy magnetické polarizace podle:
2.2.1.3.1 Měřicí sestava pro měření měrných ztrát

3. SCHVALOVÁNÍ TYPU

3.1 Postup při schvalování typu

3.1.2 Předběžná zkouška měřením vzorků materiálu

∆ H_{i} = H_{i} - H_{i} ´, (17)

δ_{a i} = δ_{B i} . |δ_{H i}| . 100 / \sqrt ({δ_{B i}}^{2} + {δ_{H i}}^{2}) =

3.1.2.4 Vypočtou se relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky etalonových vzorků (příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě) zkoušenou měřicí sestavou a etalonovou měřicí sestavou v % jako minimální normované vzdálenosti i-tého bodu (B_i,H_i) charakteristiky zjištěné měřením zkoušenou měřicí sestavou od charakteristiky určené měřením téhož etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou podle rovnice (11), (12) nebo (13):

δ_{a i} = δ_{H i} . 100 / \sqrt \{1 + {[{(B_{i} / H_{i}) . {(d B / d H)}_{i}}^{- 1}]}^{2}\} =

= ∆ B_{i} . |∆ H_{i}| . 100 / \sqrt ({∆ B_{i}}^{2} . {H_{i}}^{2} + {∆ H_{i}}^{2} . {B_{i}}^{2}) (13)

Relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky δ_ai musí být menší než 4 % pro všechny body měření charakteristik etalonových vzorků v rámci této zkoušky.
H_i´ je hodnota intenzity magnetického pole odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu B_i.

δ_{a i} = δ_{B i} . 100 / \sqrt \{1 + {[(H_{i} / B_{i}) . {(d B / d H)}_{i}]}^{2}\} =

B_i´je hodnota magnetické indukce odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu H_i,
H_i a B_i jsou hodnoty intenzity magnetického pole resp. magnetické indukce i-tého bodu charakteristiky etalonového vzorku měřené zkoušenou měřicí sestavou,
(dB / dH)_i je směrnice tečny křivky dané měřením etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou v bodě (H_i, B_i'),
kde odmocniny se berou jen kladné a kde

= ∆ B_{i} . 100 / \sqrt \{B_{i}^{2} + {[H_{i} . {(d B / d H)}_{i}]}^{2}\} (11)

δ_{B i} = (B_{i} - B_{i} ´) / |B_{i}| = ∆ B_{i} / |B_{i}|, (14)

∆ B_{i} = B_{i} - B_{i} ´, (15)

δ_{H i} = (H_{i} - H_{i} ´) / | H_{i} | = ∆ H_{i} / |H_{i}|, (16)

= ∆ H_{i} . 100 / \sqrt \{H_{i}^{2} + {[B_{i} . {(d B / d H)}_{i}^{- 1}]}^{2}\} (12)

Hodnoty relativních rozdílů měrných ztrát δ_pi zjištěné v rámci této zkoušky musí být menší než 3% pro vzorky z orientovaného materiálu pro hodnoty magnetické polarizace do 1,7 T a pro vzorky z neorientovaného materiálu pro hodnoty magnetické polarizace do 1,5 T.
kde p_1i je aritmetický střed měření i-té hodnoty měrných ztrát zkoušenou měřicí sestavou (výsledky měření zaslané od žadatele spolu s etalonovými vzorky),
p_2i je aritmetický střed měření i-té hodnoty měrných ztrát etalonovou měřicí sestavou (výsledky měření uvedené ve vystaveném kalibračním listě).

δ_{p i} = (p_{l i} - p_{2 i}) . 100 / p_{2 i}, (10)

3.1.2.3 Vypočtou se relativní rozdíly měření měrných ztrát etalonových vzorků (příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě) zkoušenou měřicí sestavou a etalonovou měřicí sestavou v %

3.1.2.2 U doručených vzorků se změří na etalonové měřicí sestavě posuzujícího orgánu měrné ztráty a amplitudová charakteristika podle bodu 2.2.1.3. K změřenému vzorku se vystaví ověřovací list, kde se uvedou aritmetické střední hodnoty z opakovaných měření.

3.1.2.1 Žadatel doručí posuzujícímu orgánu nejméně 2 kusy etalonových vzorků příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě. Tyto vzorky musí pokrývat svou hmotností a svými magnetickými vlastnostmi rozsah hmotností a magnetických vlastností vzorků měřených zkoušenou měřicí sestavou v rámci rozsahu zkoušky typu. Tyto etalonové vzorky musí splňovat požadavky uvedené v bodě 2.2.1.2 a 2.2.2.3. K etalonovým vzorkům žadatele musí být přiloženy kopie evidenčních listů vzorků popřípadě předchozí ověřovací listy vzorků. K doručeným etalonovým vzorkům musí být přiloženy výsledky a protokoly jejich měření zkoušenou měřicí sestavou v rozsazích prováděných zkoušek ne starší než 3 měsíce do data doručení.

Posuzující orgán na základě prostudování dokumentace¹) zjišťuje, zda dokumentace a následně měřící sestava splňuje požadavky této vyhlášky, rozhodne o pokračování zkoušek nebo podá návrh na negativní ukončení zkoušek.
3.1.1 Předběžné posouzení

Vnější prohlídka a kontrola předepsané technické dokumentace probíhá v místě užívání zkoušené měřicí sestavy. Při vnější prohlídce se kontroluje:
3.1.3 Prohlídka zkoušené měřicí sestavy

b) měřicí sestava musí sestávat z měřidel, etalonů a součástí uvedených v dokumentaci,

a) měřicí sestava nesmí být mechanicky poškozena,

d) úplnost všech dokumentů požadovaných v bodu 2.2.2.

c) uspořádání měřidel a součástí musí být v souladu se schématem zapojení pro příslušný druh měření,

Při zkoušce měřením vzorků se měří etalonové vzorky (příslušející k etalonové měřicí sestavě) zkoušejícího metrologického orgánu v jeho přítomnosti zkoušenou měřicí sestavou ve shodě s bodem 3.1.2.
3.1.4 Zkouška měřením vzorků materiálů

Protokol o technické zkoušce obsahuje popis a výsledky zkoušek provedených podle bodu 3.1.2, 3.1.3 a 3.1.4, které musí mít kladný výsledek. Dále obsahuje popisy, nákresy a schémata nutné pro identifikaci typu a objasnění jeho funkce.
3.1.5 Vypracování protokolu o technické zkoušce

3.2 Certifikát schválení typu
Náležitosti certifikátu schválení typu stanoví zvláštní právní předpis²).

4. OVĚŘOVÁNÍ
Prvotní a následné ověřování sestává ze zkoušek podle bodu 3.1.2, 3.1.3 a 3.1.4. Pokud je výsledek všech těchto zkoušek kladný a měřicí sestava splňuje požadavky stanovené touto vyhláškou, vystaví se ověřovací list a zkoušená měřicí sestava se opatří úřední značkou³).