(2) nepřesnost měření rovnou nebo menší (lepší) (0,2 + L/2000)μm (L je měřená délka v milimetrech); kromě měřících interferometrických systémů, bez otevřené nebo uzavřené smyčky se zpětnou vazbou, obsahující “laser“ k měření chyby pohybu saní obráběcích strojů, strojů na měření rozměrů nebo podobných zařízení;