3.1.2.4 Vypočtou se relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky etalonových vzorků (příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě) zkoušenou měřicí sestavou a etalonovou měřicí sestavou v % jako minimální normované vzdálenosti i-tého bodu (Bi,Hi) charakteristiky zjištěné měřením zkoušenou měřicí sestavou od charakteristiky určené měřením téhož etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou podle rovnice (11), (12) nebo (13):
kde odmocniny se berou jen kladné a kde
(dB / dH)i je směrnice tečny křivky dané měřením etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou v bodě (Hi, Bi'),
Hi a Bi jsou hodnoty intenzity magnetického pole resp. magnetické indukce i-tého bodu charakteristiky etalonového vzorku měřené zkoušenou měřicí sestavou,
Bi´je hodnota magnetické indukce odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu Hi,
Hi´ je hodnota intenzity magnetického pole odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu Bi.
Relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky δai musí být menší než 4 % pro všechny body měření charakteristik etalonových vzorků v rámci této zkoušky.