3.1.2.4 Vypočtou se relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky etalonových vzorků (příslušejících ke zkoušené měřicí sestavě) zkoušenou měřicí sestavou a etalonovou měřicí sestavou v % jako minimální normované vzdálenosti i-tého bodu (Bi,Hi) charakteristiky zjištěné měřením zkoušenou měřicí sestavou od charakteristiky určené měřením téhož etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou podle rovnice (11), (12) nebo (13):
δai=δBi.100/√1+Hi/Bi.dB/dHi2=
=∆Bi.100/√Bi2+Hi.dB/dHi2 (11)
δai=δHi.100/√1+Bi/Hi.dB/dHi-12=
=∆Hi.100/√Hi2+Bi.dB/dHi-12 (12)
δai=δBi.δHi.100/√δBi2+δHi2=
=∆Bi.∆Hi.100/√∆Bi2.Hi2+∆Hi2.Bi2 (13)
kde odmocniny se berou jen kladné a kde
δBi=Bi-Bi´/Bi=∆Bi/Bi , (14)
∆Bi=Bi-Bi´ , (15)
δHi=(Hi -Hi´)/|Hi|=∆Hi/Hi , (16)
∆Hi=Hi-Hi´ , (17)
(dB / dH)i je směrnice tečny křivky dané měřením etalonového vzorku etalonovou měřicí sestavou v bodě (Hi, Bi'),
Hi a Bi jsou hodnoty intenzity magnetického pole resp. magnetické indukce i-tého bodu charakteristiky etalonového vzorku měřené zkoušenou měřicí sestavou,
Bi´je hodnota magnetické indukce odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu Hi,
Hi´ je hodnota intenzity magnetického pole odečtená na charakteristice měřené etalonovou měřicí sestavou pro hodnotu Bi.
Relativní rozdíly měření amplitudové charakteristiky δai musí být menší než 4 % pro všechny body měření charakteristik etalonových vzorků v rámci této zkoušky.